Koledar

Maj - 2017
P T S č P S N
01 02 03 04 05 06 07
08 09 10 11 12 13 14
15 16 17 18 19 20 21
22 23 25 26 27 28
29 30 31  

no news in this list.

Kontakt

Tel.: 01 4701 800

Faks.: 01 4701 939

e-pošta: info[@]imt.si

Laboratorij za površinsko analizo

Vodja laboratorija:

dr. Matjaž Godec

tel.: 01/4701 957

 


Raziskave in karakterizacija trdnih površin, mej in površin zrn in faz, analiza mikrostrukture, raziskave fizikalnokemijskih pojavov na prostih površinah kovinskih in anorganskih materialih: adsorpcija, segregacija, oksidacija, korozija, obraba, rekristalizacija, kataliza, analiza tankih in ultratankih plasti itd.

Visokoločljivostna spektroskopija Augerjevih elektronov (HRAES)
Vrstična mikroskopija Augerjevih elektronov (SAM)
Vrstična elektronska mikroskopija (SEM)
Rentgenska fotoelektronska spektroskopija (XPS)
Spektroskopija odbitih elektronov z zgubljeno energijo (REELS)
Raziskave, razvoj in optimiranje procesov izdelave mehkomagnetnih materialov in elektro pločevin
Raziskave vseh kovinskih površin z deponiranimi in segregiranimi tankimi in ultratankimi plastmi
Analize "in situ" in meritve do temperature 1000 °C v ultravisokem vakuumu
Raziskave interakcij plinske faze in trdnih površin
Karakterizacija tankih in ultratankih plasti
Karakterizacija površin po triboloških preizkusih
Meritve magnetnih lastnosti mehkomagnetnih materialov

 

Microlab 310F VG-Scientific za analize površin, tankih in ultratankih plasti z HRAES, SAM, SEM in XPS

 

AES-spekter štirih različnih kemijskih stanj titana

Oprema

MICROLAB 310F, VG-Scientific: visokoločljivostni spektrometer Augerjevih elektronov na poljsko emisijo z XPS-rentgenskim fotoelektronskim spektrometrom za mikroanalizo, opremljen z "in situ" lomilno napravo vzorcev za preiskave pojavov na mejah zrn in faz
Optični mikroskop in oprema za pripravo vzorcev
Remagraph RE Steingrover za meritve magnetne poljske jakosti, magnetne indukcije, permeabilnosti in koercitivnosti ter histereznih izgub
Peč Tempress za simulacijo procesov, ki potekajo v industrijskem okolju v temperaturnem območju od 400 °C do 1200 °C


Mednarodno sodelovanje

MPI Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Düsseldorf, Nemčija
NIST – National Institute of Standards and Technology – Gaithersburg, ML, ZDA
Institut za fiziku, Sveučilišta u Zagrebu, Zagreb, Hrvatska

  • Visokoločljivostni presevni elektronski mikroskop Jeol JEM-2100 (HRTEM).
  • Pogled na Jeol JEM-2100, visokoločljivostni in analitski elektronski mikroskop, ki je opremljen z enoto STEM (detektorja za opazovanje v svetlem in temnem polju) in detektorjem EDXS.
  • Oprema Jeol EM-09100IS Ion Slicer za pripravo vzorcev tankih folij za TEM.