Laboratorij za površinsko analizo

Vodja laboratorija:
izr. prof. dr. Matjaž Godec
tel.: 01/4701 957

• Visokoločljivostna spektroskopija Augerjevih elektronov (HRAES)
• Vrstična mikroskopija Augerjevih elektronov (SAM)
• Vrstična elektronska mikroskopija (SEM)
• Rentgenska fotoelektronska spektroskopija (XPS)
• Spektroskopija odbitih elektronov z zgubljeno energijo (REELS)
• Raziskave, razvoj in optimiranje procesov izdelave mehkomagnetnih materialov in elektro pločevin
• Raziskave vseh kovinskih površin z deponiranimi in segregiranimi tankimi in ultratankimi plastmi
• Analize "in situ" in meritve do temperature 1000 °C v ultravisokem vakuumu
• Raziskave interakcij plinske faze in trdnih površin
• Karakterizacija tankih in ultratankih plasti
• Karakterizacija površin po triboloških preizkusih
• Meritve magnetnih lastnosti mehkomagnetnih materialov

Microlab 310F VG-Scientific za analize površin, tankih in ultratankih plasti z HRAES, SAM, SEM in XPS

AES-spekter štirih različnih kemijskih stanj titana

Oprema

• MICROLAB 310F, VG-Scientific: visokoločljivostni spektrometer Augerjevih elektronov na poljsko emisijo z XPS-rentgenskim fotoelektronskim spektrometrom za mikroanalizo, opremljen z "in situ" lomilno napravo vzorcev za preiskave pojavov na mejah zrn in faz
• Optični mikroskop in oprema za pripravo vzorcev
• Remagraph RE Steingrover za meritve magnetne poljske jakosti, magnetne indukcije, permeabilnosti in koercitivnosti ter histereznih izgub
• Peč Tempress za simulacijo procesov, ki potekajo v industrijskem okolju v temperaturnem območju od 400 °C do 1200 °C

Mednarodno sodelovanje

• MPI Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Düsseldorf, Nemčija
• NIST – National Institute of Standards and Technology – Gaithersburg, ML, ZDA
• Institut za fiziku, Sveučilišta u Zagrebu, Zagreb, Hrvatska