Koledar

Junij - 2017
P T S č P S N
  01 02 03 04
05 06 07 08 09 10 11
12 13 14 15 16 17 18
19 20 21 22 23 24 25
27 28 29 30  

no news in this list.

Kontakt

Tel.: 01 4701 800

Faks.: 01 4701 939

e-pošta: info[@]imt.si

TEM

TEM

Visokoločljivostni presevni elektronski mikroskop Jeol JEM-2100 (HRTEM) je na Inštitutu za kovinske materiale in tehnologije (IMT) začel obratovati decembra 2008. Preiskujemo različne vrste materialov, tako kovinske, polimerne, keramične in tudi biološke. Mikroskop obratuje pri pospeševalni napetosti elektronov 200 kV, ki jo lahko enostavno znižamo na najprimernejšo, kadar preiskujemo na elektronski curek občutljive materiale kot na primer biološke, polimerne ali ogljikove nanocevke. Povečave mikroskopa so med 50 krat do 1,5 milijonkrat. Z visoko stabilnostjo toka curka in visoke napetosti dosežemo pri 200 kV visoko končno ločljivost med dvema točkama 0,23 nm (kot vir elektronov je uporabljen kristal LaB6). Pri povečavah od nekaj sto tisočkrat naprej lahko tako opazujemo atomske kolone v urejeni tridimenzionalni strukturi kristalov. Poleg konvencionalne presevne elektronske mikroskopije (CTEM) z uporabo elektronske difrakcije (s pomočjo uklonske slike dobimo podatke o kristalni orientaciji in celičnih parametrih preiskovanega materiala) ali slike v svetlem oziroma temnem polju (na ta način tako opazujemo napake v materialu kot na primer dislokacije ali planarne napake, meje med zrni, izločke, vključke, faze v večfaznih materialih) imamo možnost preiskovanja vzorcev tankih folij tudi s pomočjo analitske elektronske mikroskopije (AEM s TEM/EDXS), visokoločljivostne elektronske mikroskopije (HRTEM) in vrstične presevne elektronske mikroskopije (STEM). 


 

Mikroskop je tako opremljen z detektorjem Jeol JED-2300T (detektor Si(Li), ločljivosti 138 eV) za energijsko-disperzijsko spektroskopijo rentgenskih žarkov (EDXS), s katerim posnamemo spekter rentgenskih žarkov, iz katerega dobimo podatek o kemijski sestavi analiziranega materiala. Mikroskop je opremljen tudi z enoto STEM (scanning TEM), s katero lahko izvajamo ploskovno analizo EDXS (mapping) z uporabo ali detektorja z opazovanjem v svetlem polju (bright-field; BF) ali detektorja z opazovanjem v temnem polju (dark-field; DF, ADF oziroma HAADF). V mikroskopu imamo prav tako možnost segrevanja vzorcev do 1000 oC (najvišja temperatura, pri kateri še lahko izvajamo visoko temperaturno preiskovanje, je 1100 oC za 48 ur). Za snemanje posnetkov uporabljamo CCD-kamero Gatan ORIUS.

Na razpolago imamo novejšo metodo priprave vzorcev tankih folij z aparaturo Jeol EM-09100IS Ion Slicer, s katero tanjšamo (režemo) material z ioni argona. Metoda omogoča kakovostno pripravo vzorcev za preiskave s TEM. Predpriprava do tanjšanja v takšni aparaturi je bistveno krajša kot pri običajni mehanski predpripravi (ne rabimo ultrazvočnega vrtalnika za izvrtavanje valjčkov premera 2,3 mm ali 3 mm, prav tako tudi ne natančnega brušenja in poliranja ter jamičastega tanjšanja). Vzorci tankih folij imajo po rezanju z ioni argona velika stanjšana področja, ki so presevna za elektrone, in so obdana z debelejšimi deli vzorca, kar poveča njihovo stabilnost in trdnost pri manipuliranju. Tanke folije imajo s to metodo priprave minimalne poškodbe površin.